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大視野一鍵拼接閃測量儀 快速影像測量
  • 產品型號:TSE-432
  • 更新時間:2025-07-15

簡要描述:大視野一鍵拼接閃測量儀 快速影像測量TSE-432
大拼接閃測儀廣泛應用于航空航天、汽車電子、半導體、鐘表、手機零部件等眾多行業。在航空航天領域,可用于測量飛機結構件等大尺寸高精度零部件;在汽車電子行業,能對汽車覆蓋件、發動機零部件等進行快速測量;在半導體行業,可測量晶圓、芯片等。

產品詳情

大視野一鍵拼接閃測量儀  快速影像測量TSE-432

大拼接閃測儀廣泛應用于航空航天、汽車電子、半導體、鐘表、手機零部件等眾多行業。在航空航天領域,可用于測量飛機結構件等大尺寸高精度零部件;在汽車電子行業,能對汽車覆蓋件、發動機零部件等進行快速測量;在半導體行業,可測量晶圓、芯片等。

TSE-400系列拼接式閃測儀采用雙遠心光學系統,結合高精度圖像拼接測量算法。在CNC模式下,任意放置工件后,只需按一下啟動鍵,即可快速完成尺寸測量和評價,能快速測量產品的平面尺寸和形位公差。儀器量測測量效率是傳統影像儀器的10-20倍。

大視野一鍵拼接閃測量儀  快速影像測量TSE-432


項目 參數
型號TSE-432TSE-542
測量范圍拼接范圍400*300mm500*400mm
單視野82*55mm82*55mm
Z軸移動范圍200mm
測量精度有拼接±(4.5+L/150)μm±(4.5+L/150)μm
無拼接±3μm±3μm
*標準件為被測產品
光學鏡頭雙遠心光學鏡頭
圖像傳感器2000萬像素
軟件基于機器學習的圖像輪廓匹配算法
亞像素精度幾何測量算法
非線性光學系統畸變校正算法
多核、多 CPU、GPU 等圖像加速處理算法
外形尺寸1100mm   * 690mm * 1800mm1200mm   * 790mm * 1800mm
電源AC   220V±10%  50Hz
環境要求溫度(T):20±2℃;相對濕度(RH):30--80%




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